SWIR
我们的 EXO 和 FXO 系列红外热像仪采用 SONY SenSWIR 传感器,性能卓越,精度高,可满足最苛刻的工业应用要求。
SWIR
我们的 SWIR 红外热像仪基于索尼 SenSWIR 技术和我们成熟的 EXO 和 FXO 热像仪设计。由于波长范围宽、灵敏度高,它们可以在 400 纳米的可见光范围到 1700 纳米的 SWIR 范围内提供极其紧凑的检测解决方案。我们创新的热设计是出色的光学质量和动态范围的基础。集成的 4 通道频闪控制器可支持复杂的分析方案。
- 索尼 SenSWIR 传感器具有 400 - 1700 纳米光谱灵敏度和高量子效率
- 先进的两点 NUC(非均匀性校正)
- CoaXPress-12 实现最低延迟和最高速度
- 10 千兆以太网,带宽经济,易于集成
- LUT、分选、ROI、猝发模式
- 高达 60°C 的工作温度
- 带安全触发器、逻辑功能、可编程定序器和定时器、RS232 接口、电气和光学输入、GenICam 和 GenTL 的工业 TTL-24V I/O 接口
注意:本产品受出口管制,需要提供有关预期用途和最终目的地的书面信息!
型号和技术参数
- 正在研发
- 工程设计样品
- 可用
- 已停产
应用领域
波长范围从 400 纳米到 1,700 纳米,应用范围广泛。在这一波长范围内,许多物质都可以根据其吸收特性进行识别。典型的应用场景包括太阳能和电子工业(硅检测)、制药业(物质测定、杂质检测)或食品生产(水果、腐烂、压痕)。此外,利用 SWIR 还能轻松检测水和/或水蒸气以及泄漏(油/水区分)。多通道频闪控制器特别适用于使用多个窄带照明进行物质检测。